接觸式與非接觸式雷達區別比較
來源： 弗林頓作者： 佚名點擊數： 次時間：2024-10-11
隨著工業自動化水平的不斷提升，雷達物位計在各類行業中的應用越來越普遍。針對接觸式導波式雷達物位計和非接觸式天線式雷達物位計進行了深入分析與比較，為企業在選擇合適產品時提供了參考。
接觸式導波式雷達物位計通過固定的導波電纜直接與被測介質接觸，利用導波的傳播特性來測量物位。這種技術適用于高溫、高壓及介電常數較低的場合，但在一些情況下可能會面臨電纜磨損、掛料或機械故障等問題，影響其長期穩定性和可靠性。
相對而言，非接觸式天線式雷達物位計則采用高頻電磁波進行測量，具有不接觸測量的優勢。這使得其在面對粘附物質或腐蝕性液體時，更加可靠且無需頻繁維護。此外，非接觸式雷達在安裝上也更加靈活，能夠適應更復雜的罐體結構。
然而，非接觸式天線式雷達物位計的波束較寬，可能導致在測量過程中受到側壁反射等干擾，從而影響測量精度。相比之下，接觸式導波式雷達物位計在處理狹小空間或復雜結構時，能夠有效避免這些干擾。
在應用場景方面，導波雷達特別適合低介電率的固態物料及液-液界面測量，而非接觸式雷達則在液體物位測量和粉狀物料的探測中表現出色。企業在選擇雷達物位計時，應根據具體的工藝要求、介質特性及環境條件，綜合考慮兩種技術的優缺點。
接觸式導波雷達物位計與非接觸式天線式雷達物位計各具特色，企業可根據實際需求合理選擇，以實現測量效果和經濟效益。隨著技術的進步，未來這兩種測量方式的結合和創新將進一步推動工業自動化的發展。
